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应用介绍
【行业】SEMI
【设备】测试分选机
【用途】用于将IC芯片按照要求进行分类和分选
应用场景
tray盘内IC芯片的浮起检测。
解决课题
1、需要满足设备的小型化设计，达到省空间的目的。
2、实现对于芯片1mm浮起的稳定检测。
价值提案
核心产品：智能激光传感器 E3NC
价值点1.
备有网络型放大器，方便导入并监控传感器实时状态。同时，放大器采用分离设计，既保证了检测头的体积小，也可在不同环境下调整放大器设置。
价值点2.
1级激光光源，1m检测距离时的2mm光斑大小，确保IC芯片微小浮起的稳定检测。
相关产品
智能激光传感器E3NC
https://www.fa.omron.com.cn/products/family/3316/
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（来源：欧姆龙）
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IIANEWS 发起 2025-2026「智造·影响力」评选，旨在发掘和呈现产业发展中标杆。目前，评选已进入网络投票阶段
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