全球领先的坐标测量机 (CMM) 设备制造商雷尼绍，宣布推出全新改进的SFP2表面粗糙度检测测头;该测头适合在CMM上与雷尼绍REVO五轴测量系统配套使用。
SFP2测头增强了REVO系统的表面粗糙度测量能力 — REVO具有多类型传感器功能，可在单台CMM上提供触发式、高速接触式扫描和非接触式影像测量。
REVO在CMM上将表面粗糙度测量和尺寸检测功能结合在一起，相较于需要单独进行操作的传统检测方法而言，具有无与伦比的优势。在五轴测量技术的支持下，SFP2的自动化表面粗糙度检测可显著节省时间、减少工件搬运，并获得更高的投资回报。
SFP2系统由测头和一系列模块组成，能够与REVO的其他测头自动交换，灵活性高，可在同一CMM平台上轻松选择最佳工具检测多种特征，由多个传感器采集的数据自动参照同一基准。
SFP2表面粗糙度检测系统使用与REVO系统相同的符合I++ DME标准的界面来管理，由雷尼绍MODUSTM测量软件提供所有用户功能。
屡获殊荣的雷尼绍获REVO五轴测量系统是唯一能同步控制CMM上三个机器坐标轴和两个测座轴运动，并同时采集工件数据的扫描系统。REVO系统使用各种2D和3D接触式测头、表面粗糙度检测测头和非接触式影像测头，显著提高了CMM工件检测的速度和精度。
参观者可在9月18–23日举办的EMO 2017德国汉诺威欧洲机床展的雷尼绍展台上一睹全新SFP2系统的风采。
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