明导推出有助于提高良品率的测试诊断工具

虽然扫描测试数据可以为诊断提供起点,但是隔离故障位置并识别缺陷类型却极为困难。明导资讯(Mentor Graphics)公司发布的YieldAssist诊断工具希望能够简化这一过程。

诊断工具帮助更好识别故障。

IC故障分析专家所从事的工作很值得同情。虽然扫描测试数据可以为诊断提供起点,但是隔离故障位置并识别缺陷类型却极为困难。明导资讯(Mentor Graphics)公司发布的YieldAssist诊断工具希望能够简化这一过程。

在从制造测试中获取门级网表、测试模式集以及故障文件后,YieldAssist就能做出对可疑缺陷类型的识别和分类报告。用户可以使用明导公司的Calibre结果视图环境(RVE),来观察芯片版图中存在的缺陷。明导宣称,通过将更好的设计规则过滤反馈回IC设计环境,有可能提高最终的良品率。

“在制造测试中,每天可能发生数以千计的故障。过去,人们仅仅将这些故障记录在案,然后随手丢弃。”明导测试部门的营销总监Greg Aldrich说,“但是现在,你可以使用扫描测试数据很容易地实现以提高良品率为目的的诊断过程。”

Aldrich表示,YieldAssist的目标市场是晶圆厂或IDM内部的故障分析部门。这些部门负责正确识别故障机制,并创建今后用来检测故障的附加测试。他们对缺陷类型的发现也可以用来提高良品率。

Aldrich引用了一位客户的例子进行说明。在这个例子中,所发现的故障中有30%是由相同机制引起的,即运行在宽金属线上的信号间的桥接。引起该问题的原因归结于化学机械打磨工艺。该客户创建了一个“硬性”的设计规则,来避免今后再发生类似的桥接缺陷。

此外,Aldrich指出,“非可视”缺陷的数量正在不断增加。“表面上只是发生了电气故障,但是通过在线检查等手段却越来越难以进行诊断。”他说。

除了桥接缺陷外,YieldAssist还能够发现开路故障、粘着在1和粘着在0的短路、以及与延时相关的缺陷。YieldAssist还可以发现双路桥接和三路桥接。

YieldAssist使用的测试模式数据来自明导的FastScan或Testkompress自动测试模式生成(ATPG)工具。目前它还不能与其它供应商的ATPG工具配合使用。Aldrich表示,明导至今还没有决定今后是否需要支持其它的ATPG工具。YieldAssist本身并不要求运行Calibre,但是如果需要浏览版图中的缺陷,就必须使用Calibre。

在获取网表、测试模式集和故障文件后,YieldAssist首先会进行模式一致性检查,以确保测试模式与设计相匹配；之后,执行故障文件一致性检查,以确保故障文件与测试模式和设计相匹配。

接下来,YieldAssist会将故障映射到可疑的分类,如开路、短路或桥接。然后,它为每个可疑故障进行分类,并算出一个得分,以此标明可疑行为与被观察故障的匹配程度。YieldAssist会报告缺陷信息、引脚路径、逻辑引脚名称和网络名称。

Aldrich指出,如果用户使用Calibre RVE,就能浏览到信号重叠的具体位置,并能够发现可能的桥接。YieldAssist还可以诊断扫描链故障和缺陷。

据Aldrich透露,YieldAssist工具是在明导内部开发而成,其中很大一部分基于原本为TestKompress ATPG压缩产品所做的工作。“当时我们做压缩的目的之一,就是确保我们能够诊断来自于压缩模式中的错误。”他说,“我们认为,今后我们将会需要使用来自制造的测试数据来帮助提高良品率。”

YieldAssist现在已经开始出售,年使用费的起价为126,000美元。该产品已经取得台积电的认可。

作者: 葛立伟