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传感器

瞄准先进技术节点IC测试,LogicVision发布ETMemory软件

  2006年06月13日  

嵌入软件测试公司LogicVision日前宣布供应最新一代的嵌入存储测试和良品率功能软件ETMemory,特别针对先进技术节点的芯片。据LogicVision称,ETMemory经过十年以上的嵌入存储器测试开发经验积累,提供行业鲁棒性最强和良品率经过检验的嵌入存储器测试和诊断功能。

支持软硬件可编程允许用户定义算法在设计时被集成到嵌入测试控制器内或者在测试时被下载到嵌入测试控制器内,LogicVision表示。硬可编程能力实现高质量水平,软可编程能力提供处理生产期间非可预见检测机制的能力,无需反复即可保证质量。

ETMemory 包含LogicVision的自动化套件,提供测试规则检验、测试计划、集成和寄存器传输级验证。它还包括该公司的ETProduction能力,据称能将错误目录功能整合到直接与用户测试程序连接的动态链接库内。

ETMemory可即供应,与所有主流物理设计流互用,包括Cadence Design Systems Inc.、Synopsys Inc.和Magma Design Automation Inc.。

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