Verisity、0-In和Novas联手开发90纳米工艺统一验证流程

EDA验证工具供应商Verisity有限公司、0-In设计自动化公司和Novas软件公司宣布了一项雄心勃勃的计划,准备联合开发一个统一的验证流程和方法,以简化采用90纳米和65纳米工艺设计的系统级芯片验证工作。这三家公司将携手在相应的工具集内创建公共数据模型。

功能验证被公认为是IC开发过程中最耗时的一项工作,它占据了整个开发时间的70%。即使采用更加先进的工艺,这个百分比也不可能有多大的改善。

“由于掩膜成本非常高,很多90nm用户都会想尽办法在芯片中加入尽可能多的可编程性与可配置性。”Verisity公司营销与业务拓展部副总裁Steve Glaser表示,“这样做可以使同一个芯片用于多个不同的产品线。”但验证这样复杂的芯片将是一项非常艰巨的任务。

因此这三家合作伙伴将结合三方的特长(Verisity的测试平台技术、0-In的形式及声明检查工具、以及Novas的硬件调试技术)来创建公共数据模型。合作三方期望公共数据模型能在第三方仿真器、加速器和模拟器的“验证基础架构”上创造一个统一的验证过程自动化(VPA)流程。他们最初将着重于硬件验证,但可能通过联盟扩张的方式计划今后实现软件验证。

“此次合作的目的是实现验证过程中所有工程任务的自动化。”Novas公司市场部副总裁Dave Kelf透露。三家公司都希望这次合作能将功能验证的执行时间缩短10倍。

VPA所创建的验证计划可以被高效地发送到系统、芯片和单元/模块级验证小组的各个成员手中。它还可以用来自动执行受验证小组成员监控的许多任务。

Verisity将定义自顶向下、以规范为导向的验证管理流程,从而把可执行的验证与覆盖率度量计划延伸为面向单元、芯片和系统验证的多级组合环境。

0-In公司将定义以实现为中心的验证性设计流程,同时合并基于声明的验证与形式验证。声明可以把规范与设计链接起来,而且能够跨越多个抽象层次,0-In公司表示。0-In公司计划提供两种流程。第一种流程侧重于采用形式验证技术的验证热点,第二种流程将面向那些在动态验证中可以用声明监控的那些设计中的关键覆盖点。

Novas公司则定义调试与故障分析流程。这些流程可以跨越从信号到处理级的活动范围,因此能使用户检测出导致VPA流程中缺陷的根本原因,Kelf介绍说。

三家公司的工具集通过这些公共数据模型就能在紧密地一起工作,用户可以将这些本来独立的工具集视作一个统一的环境,0-In公司高级架构师Richard Ho指出。

他们还透露,这些公共数据模型能够使每种工具与最新和最完整的信息集沟通。这些公共数据模型可确保VPA用户根据指定了需要验证对象的公共计划而工作。同时,这些公共数据模型可以确保各家公司的工具能够使用相同的服务器和许可,并能够访问特定的运行数据、统计和日志信息。

这三家公司也希望他们的工具能够在相同的覆盖率模型下工作。不管是基于仿真还是形式验证,这些公司都希望他们的工具在验证运行时能在实际覆盖率与跟踪结果下工作。他们也希望他们的工具套件能共享故障运行信息,并共享数据项间的关系。

作者:尚德斌