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三星电子公司最近开发出面向纳米级半导体产品的新型诊断软件ESCORT(芯片性能工艺容差估计)/SRSIM(三星可靠性仿真器)。新软件产品能在纳米级电路设计的早期阶段评估半导体电路设计的潜在错误。
新软件能在初始设计阶段执行仿真,在步入原型阶段之前检测任何潜在的设计错误。这将极大地加强高质量存储产品的制造,并缩短宝贵的开发时间和成本。
通过在产品开发周期的早期进行仔细仿真,三星的ESCORT软件能大幅提高晶圆良品率。其SRSIM能估计在指定失效期之后存储芯片电路内晶体管性能何时可能恶化。
新诊断工艺不仅适合于存储器产品,还适用于显示驱动IC(DDI)、CMOS图像传感器(CIS)和系统级芯片(SoC)设计。
ESCORT/SRSIM通过提高产品良品率并避免了对掩膜进行修正,使产品开发时间缩短至少达4周。预计新软件节省每年开发费用高达3,000万美元。
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