高清机顶盒的电性能测试
问:请问对高清机顶盒的电性能测试应该怎么着手？有这方面的测试标准吗？
答:暂且不论机顶盒的一些十分简单的结构性能检验-电源的开启与闭合、频道的变换、各处的同轴连接器是否合适以及音频输出的查验,生产线上最重要的参数测试是IRD的性能:1)VHF/UHF模拟视频信号的解调；2)锁定并解调数字RF信号；3)MPEG-2传输码流的信号分离。此外,典型的生产测试还应检验视频音频信号的模拟性能。
FLASH烧写电路测试
问:我使用安捷伦1670G测试一个FLASH烧写电路,每次连上逻辑分析仪都会烧写不成功,不连就没问题,这说明逻辑分析仪对电路产生了干扰,有没有好的办法解决干扰问题？
答:安捷伦与泰克等公司的仪器为了工作安全起见,通常会要求用户在使用之前,将仪器接地——通常在仪器的后背板有接地说明或连接设置。如此,仪器测试探头的地线也就与外接地线相互连接了。此时,如果被测装置的地端对地浮动——即与大地绝缘,由于分布阻抗的存在或火线漏电,此地端可能会带电。有时人体无意接触地端时,会有轻微触电的麻电感觉。在与接地的仪器连接后,会形成较大的放电电流、火花和干扰。
安全的工作方式应为:将仪器与被测装置在连接前,分别(在关机或开机状态下)检查是否接地并测量各自的地端对大地是否存在交流或直流电压。否则容易对双方或其一方造成干扰甚至损害。对现有干扰问题,如容许,可将被测装置一方的连接50Hz交流电源的电源线对调(如:两线电源插头)。注意上述的一些操作已超出安全工作电压范围。务必请有专业资格的人员进行操作与实验。
霍尔感应器件的批量测试
问:手头有一个互补霍尔感应器件需要批量测试,量很大,所以比较在乎测试效率。目前采用直流电压控制线圈产生变化的磁通量来判断电路功能好坏并测试电路的输出脚翻转点。要线圈产生稳定且需递增或递减的磁通量需要的时间较多,有没有其他更直接快速的方法来判断电路的功能好坏及测试输出脚翻转点等参数？
答:可采用适当重复频率的三角波驱动线圈和双通道示波器:CH1测量三角波并与其保持同步(Trig source:CH1),CH2测量霍尔感应器件的输出。从霍尔感应器件输出改变时所对应的三角波幅度,即可判断DUT(被测器件)的合格与否。200Hz-1KHz的重复频率即可获得稳定的图象观测(普通示波器)。估计,5Hz即可获得满意的测量速度。但需要使用数字存贮示波器才能获得稳定的图像。
示波器检测幅值信号
问:示波器输入阻抗1M欧,信号源内部阻抗50欧,探头为普通10X无源探头示波器显示的幅值是信号源设定的两倍,我始终想不明白。另外我测试阻抗为50欧的电路,应该用10×探头连示波器测还是用50欧内阻的示波器接BNC电缆测？
答:插上一根50欧同轴电缆,电缆的终端接50欧匹配负载,测量负载上的电压就正确了。这是因为两端匹配的信号源驱动电路,等效为一个2X信号电压的理想电压源串联一个匹配阻抗。插上匹配电缆和负载后,电缆两端都实现匹配,而1X信号电压降在负载上,1X信号电压降在驱动器端的匹配阻抗上。如果开路测量,又用高阻抗探头,等于直接测量理想电压源的2X信号电压。
芯片测试的时序问题
问:设计经过布局布线后,仿真测试功能、时序正确,但设计流片回来的芯片做功能验收时却发现少了一个时序,设计中没有引入扫描测试机制,如何定位错误？
答:用能够定位到PIN的ATE设备就可以测试了,关键看你弄清楚芯片工作原理然后编程在输入端加入测试激励,在输出端录入结果与真值比较就可以定位。不过注意加入激励千万别损坏好片。
ESD测试
问:遇到ESD测试问题:做的一款产品(带读卡器DVR),测试人员用静电枪测试会当机,取下读卡器板就不会有这样的问题。
答:这种情况我遇到很多次。原因如下:1)必须确定你产品适应的法规和测试方法,你的产品应该是针对读卡器采用8KV空气放电,法规中对是否插卡和卡是否要正常工作有不同的理解；2)不同的卡抵抗ESD的能力是不同的,当然不同的卡也会有不同的测试结果；3)在读卡器附近有没有特别对ESD敏感的电路或者有比较大的空隙泄漏ESD能量,这些都是要特别考虑和关注的。
毫欧级电阻测试
问:用什么方法可以测试毫欧级电阻?
答:用低阻测试仪(毫欧表)。小电阻测量在测试时实际上是采用了加流测压的原理,其实就是仪器本身输出一个高电流,测量输入端的电压就可以测出阻值。但是这个时候会出现一个问题:电流过大会导致被测件发热,产生的热电势会影响测试精度。所以现在做的好的仪器都会提供一个高频的低交流测试信号,仪器本身自带的修正功能使短路误差为零,用于消除由测试夹具中杂散寄生阻抗引起的误差。另外要注意的就是你的测试引线最好是整根的,中间不要有焊点；测试导线最好固定,不要弯曲；电源线和测试引线分离,不要重叠；如果测试台上有大功率或者高噪声的仪器存在,最好做好屏蔽。
模拟IC测试方案
问:我目前从事模拟IC测试,想做一个可以提供10V/3A的可控电压电流源,希望控制信号由D/A输出。有什么好的方案？
答:可以采用“DAC+扩展功率运放或集成功率运放”。请注意:作为电流源输出时,运放末级约有45W的功耗。因为电流源的空载状态是输出短路,以上是基于恒压恒流自动转换能。电路可参考有此功能的商业串调电源——两个DAC:一个设定输出电压,一个设定输出电流,以便替代两个调节电位器。还有一个需要注意的指标:Tset(达到新设定输出电压终值的0.999倍时,所需要的建立时间)。作为测量电源的Tset约为1ms(典型商业值)。普通程控电源的Tset在0.5-0.1s之间。满足Tset可能是一个设计难点。
电池充电问题
问:“请问镍镉电池放置一段时间后充电,为什么出现电压突升的现象？这是电池极化现象吗？”
答:不管是哪种类型的电池,放置一端时间后充电电压都会上升的啊!除非该类型电池在充电之前已经是完全充满了电,再充电时电压才会下降。即便是这样也不是什么极化现象,请前面那位兄弟把镍镉电池的反映方程式认真看一下。肯定会对电池产生影响的,因为你充一次电的话,循环寿命会降低,应该会降低一个循环。
PLCC IC测试
问:对PLCC(44PIN)IC用什么仪器可以测试好坏?
答:关于IC测试如果不是生产厂商很难有综合的测试方法,对于这个问题我想提供些建议:1)查询相关资料,自己做电路进行测试；2)用万用表对器件关键的PIN做对地阻抗测量(可与好的器件进行对比,一般测试芯片电源和数据信号引脚)此方法较简单,不适合大批量检测；3)向相关IC厂家索要检测资料和技术参数。
问:我们公司使用的是安捷伦公司的AOI,在使用过程中经常出现这个情况:就是当把算法、光的颜色都调好,所谓的调好即能正常的检测,误报控制在三个以下,通过率很高。但经过一段时间后误报会频繁起来,而且越来越多,打开lighting一看也一切正常,并没跳掉。出现此种情况很棘手,检测过程并不是很稳定。希望AOI方面的专家能指点一二。
答:你所提的问题是所有的AOI设备在程序使用初期都会遇到的。通常是由于两种情况造成的:1)PCB及元器件的尺寸颜色变化；2)程序编制过程中所使用的算法不当或没有考虑周全。你可以多使用在线的PCB和各种AOI软件提供的特殊的方法来完善你的程序,通常需要一到两天的时间,这样你的程序就比较有效的查出问题并避免很多的FALSE FAIL,你所提到的灯光的问题是很重要的因素,通常所有的AOI设备都需要就此做定期的校准,校准过后一段时间内可以正常使用。
万用表测量运放输入电压的问题
问:用万用表量运放的输入电压,发现有极性,就是说两个表笔调换一下,量到的电压绝对值一个大一个小,差别很大。运放输入端和一个光电二极管并联。有没有高手能解释一下？
答:由于运放器件是高阻抗输入的放大器(在建立数学模型时可以按无穷大来理想化),但你的万用表的阻抗却远远底于运放的输入阻抗,尤其你有一个光电二极管并联,所以你不可能测试出实际结果。建议:1)更改测试方法(首选),可以用示波器的×10档；2)更换高阻抗输入的万用表。而且,万用表的交流档是通过正向检波后,得到的直流有效值来作为其测量的结果,如果信号的占空比是50%,那么结果是一致的；如果不是,那当然不会测出一样的结果。如果你接有二极管一类的器件,通常情况下是信号的波形不会是对称信号(方波或正余弦)。
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