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传感器

初创公司推良率分析服务,吸引ASIC供应商

  2005年09月08日  

可制造性设计(DFM)技术供应商Ponte Solutions公司与设计服务提供商Time To

Market公司(TTM)日前推出了据称是行业首个的新型良率分析和增强服务模式。

该服务模式名为Yield Enhancement Service (YES),使TTM工程师可以采用Ponte的良品率分析工具设计并识别关键区域,以减少大批量芯片的良率损失。

“随着90纳米技术步入主流设计,良率成为继区域、时序和功率之后第四个用于分析和增强的指标。”TTM公司CEO Venkata Simhadri表示。“Ponte独特的基于模型的良品率分析技术,可直接报告并与广泛使用的物理工具相集成,为期望达成可制造性设计的工程师创造了非常引人注目的解决方案。”

两家公司声称,YES提供了面向所有物理设计的随机有限缺陷良品率问题及增强的关键面积区域分析,以解决造成良品率损失的主要因因。Ponte及TTM相信,YES将特别吸引批量ASIC制造公司及ASIC良品率低的公司。

中等规模芯片设计的良率分析服务起价3万美元。在YES良率分析期间发现问题需额外的物理设计服务以减少良品率损失,收费按项目计。


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