科利登为消费类IC提供低成本测试系统

IC供应商正在面临这样一个压力:随着消费类电子产品功能的多元化,客户迫切要求他们能够提供具有更高性能和灵活性的产品；而随着消费类电子的销售周期逐步变短,他们还必须控制成本来尽可能的降低每一颗芯片的价格,从而保证相当可观的利润。

Mike Evon:Sapphire D-10适于对成本敏感性较高的应用。

世界半导体贸易统计组织(WSTS)与市场研究机构IC Insight公布的资料显示,MCU、显示驱动IC以及手机基带芯片将会是未来几年内增长最快的IC产品。针对这一市场,自动测试设备(ATE)供应商科利登系统(Credence System)公司推出了其特别为这三大类产品以及消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计的测试系统,希望能够帮助疲于应对波动市场趋势的IC开发人员,从而降低在测试和封装上所浪费的时间和成本。

“低成本消费类的IC,如MCU、显示驱动以及基带IC是当今最受关注的IC产品。”科利登系统公司亚洲区营运总经理兼公司副总裁Mike Evon表示,“顺应当今测试经济化的需求,科利登系统推出的Sapphire D-10系列产品可以帮助工程师将单管脚的测试成本控制在500美元以下。”

Sapphire D-10集合了科利登系统在消费类混合信号、闪存和电可擦只读存储器、汽车电子以及线性和无线应用中的优势技术。在前面所提的三大类产品以及消费类混合信号器件的测试中,Sapphire D-10能够提供最多进行256个芯片并行测试的能力。此外,它还非常适合多点晶圆分拣(Wafer Sort)测试,测试速度高达200Mbps。

这是在收购恩浦科技(NPTest)公司之后,新的科利登系统第一次推出的Sapphire系列新产品。自2000年以来,这家公司进行了一系列大刀阔斧的战略收购,先后将加州TMT、MI、Integrated Measurement Systems、SZ Testsysteme、Optonics以及NPTest收归靡下,从而形成了分别以Sapphire、Kalos2、ASL1K/3K以及OptiFIB四个系列为代表的SoC、非易失性存储器(NVM)、模拟混合信号(AMS)以及调试和分析四大核心业务。

拥有了Sapphire系列产品之后,科利登的产品线开始拓展到高端片上系统领域。目前,Sapphire-S系列主要面向南北桥、网络处理器、游戏机、网络存储、图形化应用、HD-DVD以及HDTV等需要多时域、宽带高速总线的高性能应用。而Sapphire-D系列则引入了经济性的概念,面向低成本的消费类IC。

“Sapphire-S拥有最好的性能,而Sapphire-D则具有最多的工位数,后者更适于对成本敏感性较高的应用。”Evon表示。

新的Sapphire D-10不仅能应用于桌面的测试开发和特性分析工作,同时也适于量产测试。它的低功耗和便携性又为其增色不少。此系统仅需100～240V 16A的电源就能运行。此外,简单易用的用户界面也将加速测试程序的调试和开发,从而加快产品上市时间。

Sapphire D-10同一个中型个人电脑体积不相上下,其高集成度还表现在它具有高密度高效的数字、模拟和电源通道。来自该公司Kalos产品专有的Omni ASIC芯片技术是实现高集成度和低成本测试的秘诀所在。Evon介绍说:“Sapphire D-10支持768个数字通道和16个电源通道。”由于每块DPIN96通道卡上都有两个Omni芯片,每个Omni芯片支持48个通道,从而使得仅在同一芯片上就可以实现逻辑边沿和周期的发生、APG以及测试向量顺序控制等所有功能。

在混合信号方面,Sapphire D-10还支持4对差分通道,测试人员可以在运行当中随时将其设置为高精度或高频的使用模式。这种灵活性使得他们完全可以摒弃针对音频和视频信号分别使用独立仪器进行测试的方法。对于大范围的产品测试来说,它带来的好处是显而易见的——由于节省了仪器开支和操作时间,使得大幅降低测试成本成为可能,在多种芯片需要被同时测试的情况下更是如此。

Sapphire D-10的灵活性还表现在它可再配置以及可以升级的开放式结构。除了支持即插即用以及通用插槽功能方便应用拓展之外,兼容的cPCI背板标准也让这种灵活性更上一层楼。基于这个开放式架构,用户能方便使用第三方成熟仪器定制自己的配置,进一步拓展平台的灵活性和生命周期。同时,用户也能够集成自己定制的仪器,以实现一些特殊的功能和特性分析测试。

为大量数据捕获、传输和处理的消费类器件测试而特别定制的功能还包括高速的数据交换网络底层。这是Sapphire D-10系统架构的核心,它使得数据能够以500Mbps的速度在系统内传输,但同时又不明显增加主机负担。除此之外,Sapphire D-10的软件也采用了开放式结构,用户可以轻松访问底层代码,编写定制程序。除了自带的产品测试界面,现场测试人员也可以自定义用户界面,与工厂进行无缝连接。

作者:王彦