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传感器

Digitaltest参加上海Nepcon,推介测试方案

  2005年02月16日  

Digitaltest GmbH是一家电子测试和生产解决方案供应商,在即将举行的上海国际电子生产设备暨微电子工业展(Nepcon)上,该公司将与两个亚洲合作伙伴一道,给电子制造商演示如何最大化在测试方面的投资回报。

Digitaltest公司为自己的MTS系统提供协同测试,通过在生产周期的初始阶段优化测试策略,让OEM厂商、合同制造商以及他们的合作伙伴加快产品面市时间,减少测试成本,并提高产品质量。

MTS180是Digitaltest公司面向大批量生产的经济解决方案,该设备配有一个Press-Down单元和结合模拟和混合功能的In-Circuit测试探针,这是MTS180所独有的。而且,这个测试设备能装备功能测试模块,可以提供较高的错误覆盖率检测,满足客户大量的测试要求。该系统能装备最多2000个模拟或者1600个混合探针,提供合理大小的平台。

MTS300 SIGMA In-Circuit测试设备面向当今的系统测试要求:灵活性、高错误覆盖率和容易编程。同时,由于其模块化的设计,MTS300 SIGMA能按当前所需进行配置,并不会限制未来扩展的可能性。


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