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IC纳米探针设备供应商Multiprobe将PicoCurrent成像添加到其Multiscan Atomic Force Probe产品内。当与探针的参数提取功能结合时,PicoCurrent成像可提供灵敏的故障定位技术。
据该公司称,PicoCurrent成像揭示了与钨触点层光面接触的IC传导率变化。这种对比能够提供迅即的样本布局,使工艺缺陷如CVD裂缝及未对准的耗散被识别出来。
单个探针原子力显微镜技术向多个探针设备的扩展,使用户能进行所有必要的测量工作,在触点节点级就能确定失败或者评估工艺好坏。
ABB以电气问题解决专家之志，回答未来之问。讲述与中国用户携手开拓创新、引领行业发展、推动绿色转型的合作故事，共同谱写安全、智慧和可持续的电气化未来。
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