|
|
Fujitsu Laboratories日前在国际电子无器件大会(IEDM)上声称已开发出软错误(soft-error)仿真器软件,与中子白光束源产生的软错误相比,错误率要低15%。
随着更多晶体管被集成到单芯片内,由第二宇宙射线中子产生的软错误就显露出来。例如,当SRAM内部集成达到8Mb时,软错误只是一个有限的因素。当芯片缩小时,高密集的芯片就出现许多影响性能的软错误。
Fujitsu Laboratories硅技术研究员Yoshiharu Tosaka表示:“由于逻辑器件内出现的软错误非常难以校正,因此有效的测量非常重要。”软错误预测技术对于在IC设计流程初期估计软误差率至关重要。
Fujitsu Laboratories研究人员在日本大阪大学(Osaka University)核物理研究中心采用能量谱类似于海洋级大气中子但强度高大约1亿倍的中子白光束源来加速测试。该公司研究人员通过将中子束曝光到逻辑芯片中的90纳米SRAM和130纳米闭锁电路上来测量软错误率,并将结果与仿真器进行比较,从而得出文章开头提出的结论。
ABB以电气问题解决专家之志，回答未来之问。讲述与中国用户携手开拓创新、引领行业发展、推动绿色转型的合作故事，共同谱写安全、智慧和可持续的电气化未来。
12月24日上午10点，研祥周三购小程序IPC-310准系统低至三位数！
此活动每月定期举办一次，于其中一个周三的上午10点至11点限时开启。在此期间，研祥旗下多款经典爆款产品，包括高性能工业计
微信扫一扫，关注IIANews公众号
微信扫一扫，进入IIANews微网
京公网安备 11011202001138号
