香港科技园添置Optonics EmiScope-II系统

科利登(Credence)子公司—光诊断技术供应商Optonics日前宣布,香港科技园(HKSTP)已向Optonics购入一部EmiScope-II系统,用作设计调整及失效分析。

据介绍,拥有独特固态浸入透镜(SIL)科技的EmiScope-II,提供CMOS集成电路的晶体管级后向分析。设计工程师可利用EmiScope-II光子探测技术、千兆赫频宽及皮秒级时间分辨率于工程实验室快速及有效地进行故障诊断。该系统采用时间分辨光子发射显微镜加速集成电路设计调试,并透过优化光度路径及确认产量问题的根本原因以改善良品率低的问题。

EmiScope-II系统具有提升光学透镜和系统性能的能力,能为半导体公司提供访问不同封装类型器件的灵活性,从引线接合到弹抛片。EmiScope-II的SIL是一项专利设计,能提供220x和2.45NA的放大倍率来访问高级65-90纳米弹抛片装置的成像需要。和传统的空气耦合镜头比较,SIL增强了聚光能力和图象清晰度,在捕获速率上提高了五倍左右。此外,EmiScope-II还可提供多镜头类型,供使用引线接合技术和标准多层次金属弹抛片装置的制造商选用,包括长工作距离(LWD)和高图像清晰度选项。

Optonics总裁Dr Israel Niv表示,现今先进的处理技术往往需要实时地解决设计上的误差及确认来达到成功设计而带来重重困难和挑战。加入了EmiScope-II,香港科技园可提供全面的设计至测试解决方案,以便加快客户产品由概念到大量生产的整个过程。

据了解,香港科技园的探针测试发展中心还设有多项Credence的测试方案,包括Quartet、ASL 3000RF、Gemini MS and Personal Kalos等系统。有关设备为香港集成电路设计行业提供芯片程序开发、芯片调试、工程分析、特性测试及小规模生产测试等服务。