NI相继在上海和北京举办数据采集全国巡回研讨会

美国国家仪器公司(NI)“构建完整的数据采集系统”全国主题巡回研讨会日前在上海和北京相继拉闭幕,共吸引了四百余名需要测试测量应用的专业人士到场。

全天的研讨会由NI资深工程师主持,分别以数据采集的硬件和软件为讲题安排上、下午两场会议,并在其间穿插最新的技术发展分析、现场应用演示、以及演讲者和与会者之间互动的交流时间。会议的重点议程包括测试软硬件的2个方面:

1. 在基于计算机的数据采集或测量中(通常这会涉及到模数转换器),即使有经验的工程师也会对硬件指标中的一些常见术语的含义产生困惑,例如:精度(accuracy)、分辨率(resolution)、敏感度(sensitivity)、精密性(precision)。一个常见的错误就是把仪器里模数转换器的分辨率等同于整个仪器的“有效分辨率”。另一个常见的错误就是认为更高的分辨率总是会给出一个更“好”的测量结果。而事实上,根据测量对象,测量要求的不同,仪器的精度,精密性和敏感度可能会更加重要。NI工程师在会上对这些误区进行了澄清,并且着重指出了影响总体测量精度的一些关键因素,例如增益、偏移误差,以及温度漂移等。

2. 测量系统的总成本包括2个部分:显性成本和隐性成本。显性成本是指软硬件产品的成本。NI近期推出了全新高性价比的硬件系列产品,并全面降低了E系列数据采集卡的价格——这表明了NI在致力于采用最新的科技发展、为用户带来高性能的数据采集硬件的同时,尽可能地为用户着想,节省显性成本。而隐性成本就是开发成本,包括系统配置、开发时间、校准方面的投资,由于这些并非“明码标价”,所以常常被用户们所忽视。NI的软件产品可以帮助工程师和科学家们极大地提高效率,缩短开发时间,从而减少测试测量的隐性成本。举例来说,DAQ Assistant(数据采集助手)可以通过硬件配置节省时间,并生成代码；DAQ driver(数据采集驱动)可以完成自校准等。既然显性和隐性两方面的成本都降低了,那么系统总成本无疑是可以令用户满意的。