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顶尖专家加盟演讲,DAC热点议题前瞻

  2005年03月24日  

在第42届设计自动化研讨会(DAC)上,来自IBM与Cadence的两位重量级嘉宾将作主题演讲,这是研讨会主办方日前透露的。

这次研讨会将于6月13日至17日在美国加州西南部的城市Anaheim举行。届时将作主题演讲的两位嘉宾,分别是IBM公司系统与技术事业群副总裁兼首席科学家Bernard Meyerson,以及Cadence Design Systems公司高级研发副总裁Ron Rohrer。

其中,Meyerson将发表开幕主题演讲,题目为《随着传统缩放走向终结,如何对技术进行定义?》。他将探讨半导体技术传统缩放(classic scaling)的终结之路,并阐释在半导体技术领域推动性能提升的规律为何与摩尔定律截然不同。

Meyerson此前曾将“协同减小”的现象称为“传统缩放”。他表示,过去40年中由于“一组决定硅技术性能的器件尺寸的协同减小”一直顺利实现,所以摩尔定律得以屡次被验证。目前的窘境则在于:随着处理器电压的降低、晶体管间电容的降低和晶体管所驱动的时钟频率已经面临某些极限(比如物理规律的极限),“传统缩放”的改善空间已十分有限,Meyerson指出。

Meyerson目前领导着IBM的半导体研究和开发中心。除了探讨传统缩放走向终结的问题,他还将讨论新涌现的“整体设计(holistic design)”及其它新的策略,这些策略推动着IT性的持续提升。

本届DAC的另一位主题演讲嘉宾Ron Rohrer,则将于6月16日发表题为《EDA业务创新不应成为矛盾体》的主题演讲。他将勾勒出一种可更新的模式,使得EDA创新可成为可受管理的流程。

Rohrer是EDA协会Phil Kaufman奖的上任获奖者,在EDA领域已浸淫40多年。他目前在Cadence的RF IC先进研发部门工作。

除了半导体技术缩放问题和EDA创新问题,本届DAC也将讨论业界面临的其它挑战,如可制造性设计(DFM)、功率与信号完整性、电子系统级设计(ESL)和设计验证问题等。

此外,本届DAC总主席(General Chair)William H. Joyner表示,便携设备已经促使业界重新考虑功耗降低和混合信号设计问题,预计这些问题也将成为大会讨论的一个热点。


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