ADVANTEST在深圳举行SoC测试技术研讨会

(作者:周智勇)

由ADVANTEST和中国国家集成电路设计深圳产业化基地共同举办的2004年度ADVANTEST技术研讨会于2004年3月22日在深港产学研基地举行。

研讨会介绍了SoC的主流测试系统、各类热门芯片的测试技术、IC生产流程中芯片测试、IC测试和评价的软件环境以及新一代的高性能测试系统发展趋势,与会的100多名集成电路设计和生产领域的资深技术人员,就集成电路测试相关的一些热点问题和测试技术的发展趋势与Advantest的工程师进行了气氛热烈的交流。

集成电路的测试贯穿产业链的始终,ADVANTEST通过研讨会一方面可以使集成电路设计和生产企业了解芯片测试的相关技术,另一方面也可以了解到目前国内设计领域的需求,从而更好地为国内的集成电路产业提供一流的技术支持。

ADVANTEST ATE市场部总监林川先生说:“目前中国集成电路测试业务已经与国际接轨,我们最新的测试设备和技术在中国发布和安装的时间都是与国际同步进行的,因为中国本地IC设计公司的快速发展,要求测试服务提供商要更快地为IC设计工程师提供支持。”

随着中国本地晶圆测试代工业务的发展,IC设计公司开始面对众多的测试服务厂家,不同的测试服务提供商给负责测试的IC设计工程师造成了一些困难,主要表现在将设计数据转换为测试设备需要的测试数据格式要花费许多时间。对于这样的技术问题,Advantest的专家给出了详细的解答。

ADVANTEST ATE SE部技术总监徐勇先生说:“目前,中国IC设计工程师在可测性设计方面缺乏足够的培训,因而对测试流程、设备和技术掌握不够,这在一定程度上延长了产品的上市时间。”因此,深圳集成电路设计创业发展有限公司的孙亚春工程师说:“希望更多类似的研讨会及相关培训课程在深圳举行。”

据介绍,ADVANTEST公司于1993年正式涉足中国市场,在北京、上海、苏州三地都有分公司和技术服务中心。目前在国内主要提供集成电路测试设备的销售支持、研发、技术支持等服务。在中国集成电路市场上,从2002年至2004年的三年间,ADVANTEST公司的销售额以每年翻三翻的速度递增。