爱德万测试(Advantest)公司日前相继在上海和北京召开了技术研讨会,向与会介绍推介了该公司面向中国市场主流芯片的测试解决方案。
Advantest 2004年上海技术研讨会于2004年11月23日召开,据称吸引了来自业内各大厂商的工程师和经理150余人出席。在此次会议上,Advantest测试软件部门的工程师们以《SoC??C测试的领先技术》等为题作了演讲。会议围绕IC测试的新潮流和新方法,为工程师们提供了最新的资讯,并有与现场观众进行的互动交流。
而Advantest北京技术研讨会则于2004年11月25日召开,据称吸引了包括天津Freescale、中标中芯国际(北京)、中芯国际(天津)、SGNEC、大唐微电子、华大设计、北京华虹、北京NEC、龙芯、清华大学、北京大学、北京微电子研究所、各航天研究所、相关研究机构的100多位业界代表、IC测试人员及设计人员积极参加。
在北京研讨会上,Advantest具体介绍了该公司在全球的基本情况以及中国的业务发展战略及技术服务情况。该公司的资深的技术工程师们还介绍了针对当今中国市场上主流芯片的Advantest的全面解决方案:"DDR高速测试的尖端领域"、"车载芯片的全新解决方案"、"SoC测试的领先技术"、"着眼未来的LCD Driver的先进测试技术"。
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