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半导体测试协会支持IEEE测试标准

  2005年04月15日  

半导体测试协会(Semiconductor Test Consortium, STC)日前宣布,支持由集成电路制造商和自动化测试设备制造商组成的行业协会——IEEE标准测试接口语言(STIL)委员会,STIL委员会宗旨是定义面向测试语言接口的综合标准。

该协会与STIL委员会在过去的几个月内进行了紧密的合作,以促进STIL标准的开发和实现。该协会也积极地研究了Openstar(开放半导体测试结构)软件与STIL标准的融合。

半导体测试协会成立于2003年,致力于开发受所有ATE供应商方案支持的开放通用测试架构。该协会着重推动Openstar软件平台的普及,该平台得到全球36家半导体、设备和仪器公司的支持。

STC秘书兼主管Fred Bode表示:“与STIL用户组的合作成果符合STC的创办哲学和宪章,即与半导体行业标准组织合作,满足广泛的对减少测试成本的可扩展方案的要求。”


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