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EDA标准组织Accellera日前创建了一个开放性压缩技术协调委员会,以此寻求开发用于非专利片上(on-chip)测试数据压缩结构的开放性压缩标准。
Accellera透露,该委员会的目标是创建一个开放性压缩标准,降低测试成本,为半导体公司和设计测试界在设计过程中挑选可测试性设计(DFT)、自动测试模式生成(ATPG)和诊断产品时,增添更多选择。
该委员会于5月初在美国加州Rancho Mirage举行的2005年IEEE VLSI测试研讨会期间,邀集EDA与测试界、工具用户/供应商和学术机构的代表,召开了一次项目启动会议(kick-off meeting)。
Accellera主席Dennis Brophy透露,该委员会才刚刚起步,正在探求开放式压缩标准的需求阶段；此外,该委员会也在权衡Accellera组织可以扮演何种角色——如果有的话。他透露,组建这样一个委员会的推力来自Accellera组织成员之一的Cadence Design Systems公司。至于有关该委员会的其它信息,Brophy则称要待下月在美国加州举办的设计自动化研讨会(DAC)期间再行披露。
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