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NI与泰克将联合在华举办巡回技术研讨会

  2004年06月10日  

日前,美国国家仪器中国有限公司和泰克电子中国有限公司联合宣布推出系列巡回技术研讨会,扩展双方的合作空间,并帮助设计工程师满足日益增长的应用需求。

研讨会将于2004年7、8两月在深圳(7月21日)、上海(7月28日)、台北(8月3日)、南京(8月4日)、新竹(8月5日)、成都(8月10日)、高雄(8月10日)、西安(8月18日)和北京(8月25日)等地相继举行,会议期间将展示NI LabVIEW图形化开发软件在泰克的示波器上运行的效果和相关的演示实例。

“随着设计过程日趋缩短,工程师们迫切需要优秀的解决方案,更高效地完成数据采集、分析和显示的任务。”泰克亚太地区销售和运营副总裁Bob Agnes先生说,“我们与NI的密切合作使工程师们在利用系统灵活性的同时,获得更高的工作效率。此次联合巡回研讨会给工程师们提供了一个交流学习的平台,了解如何使用LabVIEW来增强泰克示波器的功能。”


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