国际测试大会(ITC 2003)将于9月29日举行,今年的焦点将转移到测试工程师日渐关注的微机电系统技术(MEMS)上。
ITC 2003将安排两场MEMS讲演,其中介绍性的研讨专场将包含MEMS器件的加工。来自Sandia国家实验室和卡内基梅隆大学的工程师的演讲将涵盖MEMS器件的设计、加工和行业应用。
另一场MEMS测试会议将探讨MEMS器件的失效机制。在失效信息的基础上,演讲者将详细阐述MEMS器件的测试。
本年度大会的主题是“突破测试接口瓶颈”,演讲题目范围从纳米技术到系统测试。
太阳微系统公司处理器及网络产品执行副总裁David Yen将讨论网络硬件供应商的芯片测试。他将在主题演讲中指出,当今的服务器需要更高级别的可靠性和可用性,而这些性能必须从一开始就构建于软件和硬件中。
Yen将介绍Sun是如何利用其处理器和ASIC来改进测试及可靠性,以及制造商需要从ATE和EDA供应商得到哪些支持。
“纳米技术的测试挑战”是第二个主题演讲人—明导资讯公司DFT工程首席科学家及总监Janusz Rajski的主题。Rajski将详细阐述纳米技术如何超越增多的门数及更高频率,对测试产生影响。
Rajski将论述由复杂铜互连及低K值介电材料引起的缺陷新类型将需要新的测试解决方案。
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