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莱智科技助力Tower内存编译器的测评

  2004年01月07日  

莱智科技股份有限公司最近宣布,半导体晶圆厂Tower Semiconductor已采用莱智科技CharFlo-Memory!套装工具,应用于商用内存编译器的测试评核。

据介绍,基于自布局萃取电路所得之电阻、电容效应数据,莱智科技的CharFlo-Memory!工具组可在任何PVT(工艺,电压,温度)状况下,产生精确的芯片内存对象模型。

Tower表示,随着硅智技术快速发展至深亚微米与纳米级数,内存已成系统芯片设计中主要组成。Tower半导体采用内存测试评核流程,希望能协助客户缩短产品量产面市的时间。

而莱智科技总裁兼执行长魏游邦先生强调:“嵌入式内存的品质与稳定度,对于深亚微米硅制造的成功与纳米系统芯片设计,都有至关重要的影响。”


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