手机屏蔽罩是指用屏蔽体将元部件，电路，组合件，电缆或整个系统的干扰源包围起来，防止干扰电磁场向外扩散的设备。
手机屏蔽罩的原理：用屏蔽体将元部件，电路，组合件，电缆或整个系统的干扰源包围起来，防止干扰电磁场向外扩散;用屏蔽体将接收电路，设备或系统包围起来，防止它们受到外界电磁场的影响。屏蔽罩的材料通常采用0.2mm厚的不锈钢和洋白铜为材料。其中洋白铜是一种容易上锡的金属屏蔽材料。采用SMT贴时应考虑吸盘的设计。手机金属屏蔽罩平整度严格控制在0.05mm的公差范围内以保证其容易上锡的性能，和优良的屏蔽效果。
激光三角反射原理
1.三维轮廓扫描仪发射线激光，测量物体被照射后表面形成漫反射，反射光通过CMOS芯片进行接受，通过计算反射光在芯片的位置，可以得到被测物体的高度段差和形状信息。
2.根据被测物体的大小和精度要求，可针对LS系列灵活选型，搭设简便，易于集成。
产品特点
1.自主研发核心芯片：核心专利技术，定制芯片开发;
2.超高精度检测：横向轮廓数据最高3840点，可以超精细呈现被测物形状，实现超高精度测量;
3.丰富的SDK接口：可与HALCON、VISIONPRO、LABVIEW、QT、C/C++/C#等开发环境灵活对接;
4.倾斜校正功能：对目标物倾斜进行修正，实现稳定测量;
5.多传感器组网功能：支持多个3D相机组网使用，讲扫描数据融合成被测物整体3D点云;
6.灵活的通讯方式：支持TCP/UDP协议、Modbus等通讯协议，可以直接和PLC、机械手控制器及其他I/O通讯。
检测案例
检测需求：
1.屏蔽罩的背面有一个凹陷处，需要测量除了凹陷处以外的平面度，双工位同时进行。
2.在屏蔽罩有三个侧面，分别测试三个侧面的平面度，双工位同时进行。
3.动态重复性精度要求0.015mm。
应用选型
屏蔽罩背面检测选用三维线激光扫描仪LS-1030，测量范围±15mm，基准距离为80mm，Z轴重复精度可达3μm。
屏蔽罩侧面检测选用三维线激光扫描仪LS-1009，测量范围±2.3mm，基准距离为20mm，Z轴重复精度可达0.4μm。
WONSOR新型LS系列三维线激光扫描仪基于激光三角反射原理，适用于各种工业应用。基于自主研发的CMOS成像芯片，扫描速度快，可提供出色的图像效果和可靠的测量结果。
检测方式
扫出图像过后，在平面上选取点位，测试产品的平面度。
扫描出侧面点云图像后，根据点位要求，分别将7个区域放置在对应点位上，拟合平面作平面度检测。
检测结果
测量32组静态重复性和10组动态重复性，背面平面度静态重复性精度为0.003mm，动态重复性精度为0.008mm;3个侧面静态重复性精度最大值为0.003mm，动态重复性精度最大值为0.008mm
客户获益
1.三维线激光扫描仪处理图像速度快，效率高，检测精度满足项目需求;
2.核心芯片自主研发，高性价比，节约客户成本;
3.一体式3D激光轮廓仪高精度稳定测量，保证客户生产品质管控。
（来源：湾测供稿）
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