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科利登在SEMICON WEST上展出了多种设计测试方案

  2003年08月20日  

在近期举办的SEMICON/WEST 2003展会上,科利登系统公司展出了新的针对市场上高速成长应用的半导体测试方案。

其中,Verity据称是第一套完整的设计调试和检验方案,它组合了处于技术前沿的光子发射探测技术和工程测试能力,加快了错误定位,提高了芯片的成功率。Verity使工程师们能在批量生产之前检验复杂集成电路在设计方面的问题。

而因为特别装备了新的固体浸润镜头(SIL),EmiScope-II能为复杂集成电路提供晶体管级后台分析,无论是用弹抛片技术或者引线接合封装技术设计的集成电路都可以,同时增加了可分析的金属层的数量。该系统的高速数据捕获和处理能力,能使半导体制造商快速进行设计调试,失效分析和特征测试,缩短了产品面市时间,降低了器件开发成本。

Personal Kalos 2(PK2)则是针对更高密度更高速度闪存器件所带来的测试挑战推出的测试系统。它具有创新的Tester-on-a-ChipTM(ToC)结构体系,有效数据频率高达400兆赫。 PK2是特别为高级非易失性存储器(NVM)设计的第一个工程测试系统,号称是至今为止NVM测试系统中占地最小的产品,并且在性能方面处于行业领先地位。

分析人士表示,器件速度和复杂性不断增加的发展趋势,使半导体制造商面临着更为严峻的测试挑战。根据VLSI调查公司的调查,使用0.13μm设计准则的设计成品产量在2001年至2002年中大约翻了一倍,并且预计到2006年这个数量会增长到所有设计成品的百分之五十以上。测试成本已经成为制造商器件总成本里极为重要的一部分,制造商们要想在今天竞争激烈的全球化的市场空间里赢得一席之地,就必须控制好这些成本。

科利登公司强调,其设计到测试工具帮助客户克服先进的处理技术带来的设计方面的困难以及测试挑战。这些工具极大的缩短了设计到量产的时间,能够帮助制造商实现利润机会的最大化。

此外,在SEMICON/WEST 2003展会上,科利登公司与其解决方案一起,还展示相关的测试工具和平台。

科利登公司的Octet据称是业界成本效益最高的用于量产的SoC测试平台,Octet的专利-引脚嵌入式温度稳定技术(per-pin embedded temperature stabilization. ETS),在提供高性能测试能力,满足SoC测试应用的同时,极大地减少了外围设备和厂房建设成本。

而ASL 3000RF是一种领先的无线测试系统,是为应对下一代无线器件和应用提出的重大技术、经济挑战而特别设计的,例如802.11无线局域网(WLAN)、码分多址(CDMA)以及全球移动通讯系统(GSM)。ASL 3000RF系统应用了科利登公司的专利调制矢量网络分析(MVNA)技术,提高了产率同时降低了测试成本。


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