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控制软件

ARM发布RealView Profiler针对嵌入式软件分析

  2007年10月23日  

  ARM公司近日在美国加州圣克拉拉举行的ARM开发者大会上发布了RealView Profiler,这一工具被专门设计用来实现对那些工作量从几分钟、几小时到几天的实际系统进行软件性能和代码覆盖的非侵入分析。通过这个工具,开发者们能将他们的应用程序性能显著提高20%以上,同时将ROM的尺寸减少20%。RealView Profiler同样包括了对statement及分支代码覆盖的综合分析,使得软件测试达到100%的代码覆盖,以保证最高品质的软件验证。

  RealView Profiler是对ARM编译技术的有力补充,将使基于ARM处理器的设备性能提升到一个新高度。RealView Profiler基于完整的ARM调试及追踪架构,能够提供对嵌入式系统软件性能的分析。从设计周期的早期到最后阶段,RealView Profile都能为性能分析提供支持,从而大大降低软件开发项目的风险。为了做到这一点,ARM RealView Profiler通过新型RealView Trace 2捕捉单元支持硬件模拟,还通过超快RealView实时系统模型提供虚拟平台模拟。

  RealView Profiler可作为Eclipse集成开发环境的插件,并且在该环境下提供通过以相似的外观和感觉来简化使用的图形用户界面。

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