日本积极打造“泛在”ID技术事实标准

成立不到半年的日本“泛在ID中心”(Ubiquitious ID Center)已开始进行广泛的现场测试,为自动鉴别技术打造事实上的标准。该中心已经批准三款符合其标准规范的芯片作为首批鉴别标签。

利用这些芯片,该中心打算第一步是建立一个广泛的标签系统,它将覆盖所有的鉴别手段,包括条形码、射频鉴别(RFID)、智能卡、有源芯片甚至服务器。该中心将采用日立公司的一个0.4平方毫米“mu-chip”和凸版印刷(Toppan Printing)公司的一块1平方毫米芯片作为Class 1 RFID标签。采用Renesas Technology公司AE45X芯片的一种智能卡将作为Class 4智能标签进行测试,这种智能卡是Renesas、YRP泛在联网实验室以及东京大学联合开发的。

泛在ID中心将其标准ID标签分为9级:Class 0为光学、可视ID标签,如条形码；Class 1和Class 2为RFID标签；Class 3和Class 4面向智能卡标签；Class 5和Class 6为有源芯片标签；Class 7面向安全盒(security box)；Class 8级针对安全服务器。

日立的mu-chip小到足以嵌入到纸张中。这种只读IC工作频率为2.45GHz,有一个128位的ROM用于存储ID。它将会用在2005年日本爱知世博会的门票中。

“要想拓宽使用范围,成本是关键。”日立Mu解决方案风险投资公司的总裁兼CEO Ryo Imura认为。目前这种芯片的成本为42美分,但公司希望能把成本降低到9美分以下,Imura介绍说。

凸版印刷公司的T-Junction芯片具有915MHz和2.45GHz两个工作频段。它拥有一个1,024位的E²PROM和防碰撞功能,读写速度均为50皮秒。

“明年早些时候我们将在一个封闭环境内进行现场测试。”凸版印刷公司高级总经理Yoshihiko Okitsu说,“另外我们还要和泛在ID中心合作开发瞄准全球市场的一些技术。”

泛在ID中心作为T-Engine论坛组织的一部分成立于2003年3月,它拥有大约170个成员,包括日本的主要电子厂商以及部分外国公司的当地分支机构和来自其他行业的参与者。T-Engine论坛的目的是基于东京大学教授Ken Sakamura提出的T-Engine架构,在泛在计算环境内为嵌入设备开发中心组件。

“我们并不想用芯片标签来取代条形码,而是想把现有的ID系统包括在我们的系统之内。”Sakamura说。

日本总务省(MPHPT)支持该中心的工作,将其作为政府推动“泛在网络”战略的一部分。

那些现场测试将集中在食品从生产到分销的追踪能力,涉及使用这种标签、基于T-Engine开发的智能通讯器以及Sakamura牵头的YRP泛在网络实验室服务器的农场主、零售店和消费者。

在生产地,标签被粘贴在化肥和农药的袋子上。通讯器从袋子上读取这些信息并向农场主提供信息。安放在产品包装箱上的标签将用于物流处理。而消费者能从每个产品包装袋上的标签读取他们所购买的产品历史记录。“未来,每部手机会具有这样的扫描功能。”Sakamura表示。

作者:原好子