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I/O 设备

STATS通过双排设计提高QLP封装I/O性能

  2004年04月06日  

独立半导体测试和封装服务供应商ST Assembly Test Services Ltd. (STATS),最近推出其Quad Leadless Package的最新双排(dual row)版本,以在用于无线和其他手持应用产品的经济型封装中提供更高的输入输出(I/O)性能。

据介绍,与目前业界现有的Quad Flat No-lead(QFN)封装设计相比,STATS的 Dual Row Quad Leadless Package (QLP-DR)提高了I/O Terminal Pad的数量,而面积却更小。QLP-DR改进后的性能的关键在于引线架(leadframe)设计。这种设计具备带有一个用于芯片接地和改善热性能的暴露式晶粒座(die pad) 的双排交错式I/O Terminal Pad。STATS的QLP封装还具有非暴露式晶粒座设计,能够实现更高密度的板级(board level)路径。

STATS表示,采用与标准Quad Leadless Package相同的装配测试方法的QLP-DR 能提供一种具有高产量和可靠性的高性能装置,而成本却比许多基于层压板或衬底的芯片级封装和晶圆级封装更低。就环保方面而言,QLP-DR是一种绿色无铅封装,比基于层压板的封装更经济。

QLP-DR在同样的体积下可比单排QLP多容纳50%的接头(terminal)。由于拥有更高的输入输出性能,QLP-DR适合用于无线手持设备、电源管理、模拟基带、CDMA和蓝牙应用。


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