经济性、高级测试功能兼顾,安捷伦为ODM推出在线测试系统

安捷伦科技公司日前为需要“刚好够用”的设计制造商(ODM)推出一种低成本在线测试系统。这一新系统提供了一种经济的方式,在测试大批量消费性电子产品和个人电脑主板时实现了最高的信心。

制造缺陷分析仪(MDA)测试系统和其它在线测试(ICT)系统大多采用安捷伦开创的上一代TestJet技术,与此不同的是,Medalist i1000提供了安捷伦尖端的VTEP v2.0无矢量测试套件。VTEP v2.0由屡获大奖的iVTEP和新型网络参数测量技术(NPM)组成,为微型球栅阵列和倒装芯片提供了空前的覆盖能力,同时可以测试消费性电子产品和桌上型PC中常见的连接器电源针脚和接地针脚。

安捷伦Medalist i1000兼容大多数MDA夹具,对希望升级现有MDA、获得更高测试功能的制造商提供了投资保护能力。

使用简便的图形用户界面保证可以简便地操作系统。AutoDebug (自动调试)功能把调试时间从几天缩短到几个小时,加快了产品开发周期,提高了制造商的盈利能力。安捷伦Medalist i1000还带有自动提供隔离节点功能,而不需根据线路图手动检查隔离点。

Medalist i1000为用户提供了两种夹具选项。第一个选项为用户提供了经济的方案,支持典型的MDA型夹具及排??排线连接。第二个选项采用真空管型夹具和使用电动马达的机械夹具锁定系统。这种无排??设计可以快速更换夹具,同时保持高信号完整性。

“当前的电路板的复杂程度不断提高,给采用MDA的测试战略带来了挑战。”安捷伦公司ICT市场经理NK Chari说,“Medalist i1000融经济性与高级测试功能于一身,由于其简便易用及广泛的缺陷覆盖能力,它提供了一个独一无二的经济的解决方案,可以帮助制造商大大提高生产效率。”

安捷伦Medalist在线测试(ICT)系列提供了业内领先的ICT灵活性,解决了电子器件制造商面临的实际问题。该系列采用可扩充的结构,分成单模块、两模块和四模块配置,解决了车间中最广泛的各种优先次序。兼容的设计和经过验证的ICT技术实现了业内无可比拟的测试移植能力、稳定性和可重复性,可以全面自由地在不同系统、生产线和站点之间转移测试,而不会降低测量准确性。通过在这一系列中新增Medalist i1000平台,安捷伦现在提供了完整的一系列系统,可以涵盖整个电路板测试领域。