嵌入测试专业公司LogicVision最近量产一种新型内建自测试(BIST)产品线,据称能缩减系统级芯片(SOC)、存储器及其它设计的IC测试循环时间达两个月。
LogicVision表示,LV2004产品能实现测试自动化,并能访问SOC及存储器的设计、调试及制造测试阶段。据LogicVision称,该产品可被安捷伦、Inovys、LTX及Teseda的自动化测试设备平台(ATE)所支持。该解决方案包括两大关键技术:Embedded Test Planner及Wrapper TAP(WTAP)。Embedded Test Planner是一种预测性的分析工具,据称能确定出设计架构和嵌入测试要求之间的不兼容性,因而能使设计迭代最小化。
WTAP技术能实现对所有嵌入测试结构的分层及可升级访问,符合IEEE P1500工业标准。为了允许设计师在更快速的平台上使用LV2004,Linux RedHat现今也获得了支持。
LV2004还包含许多新型先进的性能,并采用了内存BIST控制器。它还内含改进的非接触式I/O测试能力,添加了I/O泄漏测试,采用现有的IEEE1149.1边界扫描硬件。
面向Linux、Solaris和HP-UX操作系统的LV2004在2003年第四季度到2004年第一季度可上市。
京公网安备 11011202001138号
